DSP in Embedded System on Step by Step
ATE(Auto Test Equipments), known as Device Under Test(DUT), Unit Under Test(UUT)
分兩個階段
System Level Test(SLT)
Reference
http://en.wikipedia.org/wiki/Automatic_test_equipment
http://en.wikipedia.org/wiki/System_testing
設計程式之所以有趣不外乎是它的千變萬化,同樣的結果卻有不同的寫法。 但這些不同寫法當中也並沒有分誰對誰錯,也沒有制定標準來規範何事該用何解。 這也就是我們設計者的珍貴!! [1] Primitive Instantiations 在Verilog中最基本的邏輯...